非接觸方塊電阻測試系統

產品簡介
LEI88 是針對科研類客戶開發的產品，具備非接觸快速測試方塊電阻和電導率功能。

Name: 非接觸方塊電阻測試系統LEI88
Brand: 波銘科儀
Availability: InStock

產品型號：LEI88

更新時間：2025-12-24

廠商性質：生產廠家

訪問量：1238

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

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Capability:

非破壞
方塊電阻/電導率測試
適合科研應用

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。

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