熒光量子效率測試系統

產品簡介
QE-2000熒光量子效率測試系統瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域的雜散光。

Name: 熒光量子效率測試系統QE-2000
Brand: OTSUKA/日本大塚
Availability: InStock

產品型號：QE-2000

更新時間：2025-12-24

廠商性質：生產廠家

訪問量：2752

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PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

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QE-2000熒光量子效率測試系統

QE-2000瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域的雜散光。另采用了積分半球unit，實現了明亮的光學系的同時，運用其再激發熒光補正的優點，可進行高精度的測量。
高精度測量（zhuan.利：5150939號）：使用低雜散光光譜儀MCPD系列
多次激發補正（zhuan：3287775號、4631080號）：大.程度降低樣品所反射的激發光再次照射樣品帶來的多次激發, 對粉末和固體測試精度提高明顯
使用積分半球（zhuan：4216314號）：是普通積分球測試效率的2倍，更易于樣品的裝夾，更換簡單
多種樣品都能對應：粉體、溶液、薄膜、固體等等
可添加溫控系統：-30~300℃

QE-2000熒光量子效率測試系統

型號	3683C		311C		2580C		3095C
波長范圍	360-830nm		360-1100nm		250-800nm		300-950nm
像元波長寬度	1.0nm	0.5nm	1.6nm	0.8nm	1.2nm	0.6nm	1.4nm	0.7nm
像元數	512	1024	512	1024	512	1024	512	1024
CCD	電子冷卻式CCD圖像傳感器
AD轉換精度	16 bit
單色器配置	F/#=3, f=85.8mm
光源	150W氙燈
激發波長	250-800nm
帶寬	FWHM 5nm/slit 0.6mm
樣品抗光裝置	自動關閉裝置
激發波長控制	自動控制
積分球材質	Spectralon（美國Labsphere公司zhuan.利材料名）
尺寸	150mm 半球
粉末測試樣品座	SU304
溶液樣品池	石英制溶液比色皿

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